DIN 58002-2001 集成光路.单模式光学芯片元件的近场测量

作者:标准资料网时间:2024-05-17 22:26:32 浏览:8219 来源:标准资料网

【英文标准名称】:Integratedoptics-Near-field-measurementforsingle-modeopticalchipcomponents
【原文标准名称】:集成光路.单模式光学芯片元件的近场测量
【标准号】:DIN58002-2001
【标准状态】:现行
【国别】:德国
【发布日期】:2001-12
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:光学;电信;集成光路;近场测量值;测量技术;计量学;芯片;波导管;微电子学;元部件;光学的;定义;光电子学;电子设备及元件;集成电路;试验;近场
【英文主题词】:
【摘要】:Thedocumentspecifiesmethodsforcomparablecharacterizationofthemodefieldatopticalinterfacesofsinglemodedintegratedopticalelements.
【中国标准分类号】:L56
【国际标准分类号】:31_260
【页数】:10P;A4
【正文语种】:德语

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